|
|
Tenké vrstvy připravené v RF doutnavém výboji a jejich fyzikálně-chemické vlastnosti
Bránecký, Martin ; Boušek, Jaroslav (oponent) ; Čech, Vladimír (vedoucí práce)
Diplomová práca je v teoretickej časti zameraná na literárnu rešerš zaoberajúcou sa tvorbou tenkých vrstiev, plazmou, analýzou plazmy pomocou hmotnostnej spektrometrie a plazmovou polymerizáciou. Ďalej táto časť popisuje analýzu tenkých vrstiev pomocou optických metód spektroskopickej elipsometrie a FT-IR spektroskopie. Experimentálna časť práce popisuje materiály používané pri príprave tenkých vrstiev ako aj popis aparatúry, ktorá slúži pre prípravu tenkých vrstiev technológiou plazmochemickej depozície z plynnej fázy (PE CVD). Presné monitorovanie a riadenie depozičných podmienok, monitorovanie plazmy a jej produktov hmotnostnou spektrometriou zabezpečia vysokú reprodukovateľnosť prípravy tenkých vrstiev. Posledná časť práce popisuje výsledky merania skupiny vzoriek vytvorených tenkých vrstiev a ich vyhodnotenie elipsometrom, hmotnostným spektrometrom a FT-IR spektroskopom s ohľadom na depozičné podmienky.
|
|
|
Characterization of a new deposition system for coating the fibers
Zvonek, Milan ; Salyk, Ota (oponent) ; Čech, Vladimír (vedoucí práce)
The aim of the bachelor thesis is characterisation of a deposition system for coating thin films. The theoretical part focuses on literature recherché on plasma and plasma polymerization, thin films and its analysis using IR spectroscopy and spectroscopic ellipsometry. Experimental part deals with materials and equipment used for preparation of thin films using plasma polymerisation. The final part of the thesis describes the measurement results of the thin films deposition and their evaluation with respect to the deposition conditions.
|
|
|
Optical and magneto-optical properties of thin films of topological insulator Bi2Se3
Jambrich, Jakub ; Veis, Martin (vedoucí práce) ; Hamrle, Jaroslav (oponent)
Významným objektom výskumu v oblasti materiálov sa v posledných dvoch desaťročiach stali topologické izolátory. Ich hlavnou výhodou je, že sa na ich povrchu vytvárajú metalické vodivé stavy, v ktorých sa elektróny dokážu pohybovať, akoby ich efektívna hmotnosť bola takmer nulová. Táto vlasnosť má obrovský potenciál na využitie v novej generácii vysokorýchlostnej elektroniky. V tejto práci sa venujeme skúmaniu optických a magnetooptických vlastností topologického izolátoru Bi2Se3, ktoré sú kľúčové pre jeho ďalšie potenciálne využitie. Pomocou merania absorpcie na Landauových hladinách vo vysokom magnetickom poli určíme tvar disperzie elektrónovej štruktúry, ako aj šírku zakázaného pásu. Následne spektroskopickou elipsometriou v rozsahu viditeľného a blízkeho ultrafialového spektra odmeriame energetickú závislosť komplexnej relatívnej permitivity, ktorá je kľúčová pre popis optických vlastností.
|
|
|
Dynamic change in optical response of nanostructures
Vančík, Michal ; Veis, Martin (vedoucí práce) ; Zázvorka, Jakub (oponent)
Názov práce: Dynamická zmena optickej odozvy nanoštruktúr Autor: Michal Vančík Ústav: Fyzikální ústav UK Vedúci bakalárskej práce: RNDr. Martin Veis, Ph.D., Fyzikální ústav UK Abstrakt: V súčasnej dobe sú intenzívne skúmané vlastnosti tenkých vrstiev a multivrstvových nanoštruktúr. Vďaka odlišným vlastnostiam od objemových ma- teriálov si tenké vrstvy našli uplatnenie v rôznych odvetviach a sú kľúčové pre mnoho technológií. Výskum sa venuje aj nanoštruktúram s obsahom GdOx, kto- rých vlastnosti sú modifikovateľné priložením napätia. Predpokladá sa, že táto zmena je spôsobená migráciou iónov v štruktúre. Táto bakalárska práca sa ve- nuje skúmaniu multivrstvových štruktúr, ktoré aplikáciou napätia reverzibilne menia optickú odozvu. Vo vzorkách zmena pravdepodobne nastáva vďaka migrá- cii vodíkových iónov do vrstvy GdOx. Cieľom práce je popísať optické vlastnosti jednotlivých vrstiev štruktúry a následne popísať dynamckú zmenu optických vlastností. Merania boli vykonané pomocou spektroskopickej elipsometrie, vďaka ktorej bolo možné aplikáciu napätia merať in situ. Kľúčové slová: spektroskopická elipsometria, gadolinium oxid, multivrstvové na- noštruktúry, in situ
|
|
|
Characterization of a new deposition system for coating the fibers
Zvonek, Milan ; Salyk, Ota (oponent) ; Čech, Vladimír (vedoucí práce)
The aim of the bachelor thesis is characterisation of a deposition system for coating thin films. The theoretical part focuses on literature recherché on plasma and plasma polymerization, thin films and its analysis using IR spectroscopy and spectroscopic ellipsometry. Experimental part deals with materials and equipment used for preparation of thin films using plasma polymerisation. The final part of the thesis describes the measurement results of the thin films deposition and their evaluation with respect to the deposition conditions.
|
|
|
Tenké vrstvy připravené v RF doutnavém výboji a jejich fyzikálně-chemické vlastnosti
Bránecký, Martin ; Boušek, Jaroslav (oponent) ; Čech, Vladimír (vedoucí práce)
Diplomová práca je v teoretickej časti zameraná na literárnu rešerš zaoberajúcou sa tvorbou tenkých vrstiev, plazmou, analýzou plazmy pomocou hmotnostnej spektrometrie a plazmovou polymerizáciou. Ďalej táto časť popisuje analýzu tenkých vrstiev pomocou optických metód spektroskopickej elipsometrie a FT-IR spektroskopie. Experimentálna časť práce popisuje materiály používané pri príprave tenkých vrstiev ako aj popis aparatúry, ktorá slúži pre prípravu tenkých vrstiev technológiou plazmochemickej depozície z plynnej fázy (PE CVD). Presné monitorovanie a riadenie depozičných podmienok, monitorovanie plazmy a jej produktov hmotnostnou spektrometriou zabezpečia vysokú reprodukovateľnosť prípravy tenkých vrstiev. Posledná časť práce popisuje výsledky merania skupiny vzoriek vytvorených tenkých vrstiev a ich vyhodnotenie elipsometrom, hmotnostným spektrometrom a FT-IR spektroskopom s ohľadom na depozičné podmienky.
|
host ::
RSS.